发明授权
- 专利标题: 用于微电路测试器的导电引脚
- 专利标题(英): Electrically conductive pins for microcircuit tester
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申请号: CN201080020411.7申请日: 2010-03-10
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公开(公告)号: CN102422726B公开(公告)日: 2015-07-01
- 发明人: 约翰·E·纳尔逊 , 杰弗里·C·谢里 , 帕特里克·J·阿拉戴奥 , 罗素·F·奥伯格 , 布赖恩·沃里克 , 加里·W·米哈尔科
- 申请人: 约翰国际有限公司
- 申请人地址: 美国明尼苏达州
- 专利权人: 约翰国际有限公司
- 当前专利权人: 约翰国际有限公司
- 当前专利权人地址: 美国明尼苏达州
- 代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- 代理商 陈源; 张天舒
- 优先权: 61/158,934 2009.03.10 US; 61/307,100 2010.02.23 US
- 国际申请: PCT/US2010/026767 2010.03.10
- 国际公布: WO2010/104913 EN 2010.09.16
- 进入国家日期: 2011-11-09
- 主分类号: H05K1/11
- IPC分类号: H05K1/11
摘要:
待测器件的端子通过一系列导电引脚对被临时电连接到负载板上的相应接触焊盘。各个引脚对被中介层隔膜保持就位,所述中介层隔膜包括面对待测器件的顶部接触板、面对负载板的底部接触板以及顶部和底部接触板之间的具有垂直韧性的不导电构件。每一个引脚对包括顶部和底部引脚,其分别朝向待测器件和负载板延伸超出顶部和底部接触板。顶部和底部引脚在相对于隔膜表面法线倾斜的界面处彼此接触。当被纵向压缩时,引脚通过沿着界面滑动而朝向彼此平移。所述滑动在很大程度上是纵向的,并且具有由界面的倾斜所决定的较小的合乎期望的横向分量。
公开/授权文献
- CN102422726A 用于微电路测试器的导电引脚 公开/授权日:2012-04-18