发明授权
- 专利标题: 预非晶化注入的高温Ti自对准硅化物工艺
- 专利标题(英): Process for self alignment of previously non-crystallized filled high temperature Ti on silicide
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申请号: CN201110385947.5申请日: 2011-11-29
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公开(公告)号: CN102403210B公开(公告)日: 2013-07-31
- 发明人: 陈海峰 , 聂圆燕 , 洪根深 , 郭晶磊
- 申请人: 无锡中微晶园电子有限公司
- 申请人地址: 江苏省无锡市新区长江路21号信息产业园A座203室
- 专利权人: 无锡中微晶园电子有限公司
- 当前专利权人: 无锡中微晶园电子有限公司,中国电子科技集团公司第五十八研究所
- 当前专利权人地址: 江苏省无锡市新区长江路21号信息产业园A座203室
- 代理机构: 无锡市大为专利商标事务所
- 代理商 曹祖良
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28 ; H01L21/283 ; H01L21/265
摘要:
本发明涉及一种预非晶化注入的高温Ti自对准硅化物工艺,其包括如下步骤:a、提供衬底,并在衬底上形成栅极区、源极区及漏极区;b、用注入机对上述衬底对的表面注入所需的非晶化离子,使得上述衬底表面的硅及多晶硅处于非晶化状态;c、对上述非晶化过的衬底表面淀积高温Ti膜;d、对上述衬底进行低温退火,以使上述Ti膜形成C49相的TiSi2膜;e、去除衬底表面未形成TiSi2膜的Ti膜;f、对上述衬底进行高温退火,以使上述TiSi2膜形成稳定C54相的TiSi2膜。本发明降低硅化钛膜的相转移温度,形成表面光滑的均匀的TiSi2膜;在亚微米/深亚微米电路的制造过程中,缓解Ti-Salicide技术的窄线条效应问题;工艺简单,具有很强的操作性。
公开/授权文献
- CN102403210A 预非晶化注入的高温Ti自对准硅化物工艺 公开/授权日:2012-04-04
IPC分类: