发明授权
CN102326090B LED芯片测试装置
失效 - 权利终止
- 专利标题： LED芯片测试装置
- 专利标题（英）： LED chip testing device
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申请号： CN200980157166.1申请日： 2009-12-24
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公开(公告)号： CN102326090B公开(公告)日： 2013-12-11
- 发明人: 柳炳韶
- 申请人： QMC株式会社
- 申请人地址： 韩国京畿道
- 专利权人： QMC株式会社
- 当前专利权人： QMC株式会社
- 当前专利权人地址： 韩国京畿道
- 代理机构： 北京鸿元知识产权代理有限公司
- 代理商 许向彤; 林锦辉
- 优先权： 10-2009-0014471 2009.02.20 KR; 10-2009-0023030 2009.03.18 KR; 10-2009-0058292 2009.06.29 KR; 10-2009-0114028 2009.11.24 KR
- 国际申请： PCT/KR2009/007809 2009.12.24
- 国际公布： WO2010/095809 KO 2010.08.26
- 进入国家日期： 2011-08-19
- 主分类号： G01R31/26
- IPC分类号： G01R31/26 ; G01R31/02
摘要：
本发明提供一种LED芯片测试装置，所述LED芯片测试装置测量LED芯片的特性。所述LED芯片测试装置包括：转动构件，所述转动构件支撑所述LED芯片并且使所述LED芯片转动到测试该LED芯片的特性的测试位置；以及测试机，所述测试机与所述转动构件相邻地安装并且用于测量所述测试位置处的所述LED芯片的特性。
公开/授权文献
- CN102326090A LED芯片测试装置 公开/授权日：2012-01-18
