发明授权
- 专利标题： 用于成像系统的光电检测器
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申请号： CN200880101916.9申请日： 2008-06-04
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公开(公告)号： CN102318063B公开(公告)日： 2016-04-20
- 发明人: 纪凡 , 米科·云图宁 , 伊罗·希耶塔宁
- 申请人： 地太科特技术有限公司
- 申请人地址： 芬兰米克罗波利斯
- 专利权人： 地太科特技术有限公司
- 当前专利权人： 地太科特电子制造(北京)有限公司
- 当前专利权人地址： 芬兰米克罗波利斯
- 代理机构： 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 余刚; 吴孟秋
- 优先权： 0710629.7 2007.06.04 GB
- 国际申请： PCT/EP2008/056933 2008.06.04
- 国际公布： WO2008/148815 EN 2008.12.11
- 进入国家日期： 2010-02-04
- 主分类号： H01L27/146
- IPC分类号： H01L27/146
摘要：
本发明公开了一种至少包括一个光电检测器的衬底，该光电检测器在衬底的第一表面上具有第一活性区而在衬底的第二表面上具有第二活性区，其中，光电检测器设置有与衬底电隔离的导电过孔，该导电过孔穿过光电检测器从衬底的第一表面延伸到衬底的第二表面，用于将第一活性区连接至衬底的第二表面，第二表面为光电检测器的第一活性区和第二活性区提供电连接。
公开/授权文献
- CN102318063A 用于成像系统的光电检测器 公开/授权日：2012-01-11
IPC分类:
