本发明涉及一种开尔文测试分选用导线架及金手指结构，其包括架体；所述架体的一端设有测试分选连接区，架体的另一端设有基座定位安装区，所述基座定位安装区及测试分选连接区上设有若干管脚，所述管脚沿架体的轴线长度方向分布。本发明架体的一端形成测试分选连接区，另一端形成基座定位安装区；基座定位安装区与测试分选连接区一体制造成型，避免了焊接时造成的短路、虚焊及分布电容不一致的情况；测试分选连接区与现有导线架结构相同，基座定位安装区在定位安装绝缘体上形成基座接插区，基座接插区与HSOP型功率集成电路相连；测试分选精度高，结构简单紧凑，测试分选方便，使用寿命长，适用性好，测试成本低，安全可靠。