- 专利标题: 用飞秒激光制备背入射硅基碲镉汞焦平面增透膜的方法
- 专利标题(英): Method for preparing back incident silicon-based tellurium, cadmium and mercury focal plane anti-reflection film by femto-second laser
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申请号: CN201110071308.1申请日: 2011-03-23
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公开(公告)号: CN102185018B公开(公告)日: 2013-03-06
- 发明人: 张姗 , 胡晓宁 , 廖洋 , 于晓明
- 申请人: 中国科学院上海技术物理研究所
- 申请人地址: 上海市玉田路500号
- 专利权人: 中国科学院上海技术物理研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海技术物理研究所
- 当前专利权人地址: 上海市玉田路500号
- 代理机构: 上海新天专利代理有限公司
- 代理商 郭英
- 主分类号: H01L31/18
- IPC分类号: H01L31/18 ; G02B1/11
摘要:
本发明公开了一种用飞秒激光制备背入射硅基碲镉汞焦平面增透膜的方法,它涉及光电探测器制造工艺技术。本发明采用飞秒激光超精细“冷”加工技术直接在硅衬底表面制备增透膜。通过选择合适的工作环境,调节飞秒激光平均功率、激光扫描速度等参数控制微结构的形貌,减小衬底表面对入射光的反射,实现在红外波段的增透目的。增透膜为衬底材料在飞秒激光作用下发生再构形成,与衬底具有很好的热匹配,可靠性高。增透膜制备所用的飞秒激光“冷”加工方法操作简单,具有加工精度高、热效应小的优点,特别适用于碲镉汞器件的加工工艺。
公开/授权文献
- CN102185018A 用飞秒激光制备背入射硅基碲镉汞焦平面增透膜的方法 公开/授权日:2011-09-14
IPC分类: