发明授权
- 专利标题: 成像系统
- 专利标题(英): Imaging system
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申请号: CN200980128805.1申请日: 2009-05-22
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公开(公告)号: CN102105960B公开(公告)日: 2014-01-29
- 发明人: M·J-J·威兰 , 亚历山大·H·V·范维恩
- 申请人: 迈普尔平版印刷IP有限公司
- 申请人地址: 荷兰代夫特
- 专利权人: 迈普尔平版印刷IP有限公司
- 当前专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰代夫特
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 高巍; 沙捷
- 优先权: 61/055,839 2008.05.23 US
- 国际申请: PCT/EP2009/056230 2009.05.22
- 国际公布: WO2009/141428 EN 2009.11.26
- 进入国家日期: 2011-01-24
- 主分类号: H01J37/317
- IPC分类号: H01J37/317
摘要:
本发明提供一种带电粒子多子束系统,用于使用多个子束对目标(11)进行曝光。该系统包括用于生成带电粒子波束(20)的带电粒子源(1)、用于定义来自所生成波束的多组子束(23)的子束孔径阵列(4D)、包括了用于可控地阻断子束(23)的阻断器的阵列的子束阻断器阵列(6)、用于阻断由阻断器偏转的子束(23)的波束终止阵列(8),该波束终止阵列(8)包括孔径阵列,每个波束终止孔径对应于一个或多个阻断器,以及用于将子束投影到目标表面上的投影透镜系统的阵列(10)。该系统使源(1)成像到波束终止阵列(8)的平面上、投影透镜系统的有效透镜平面处的平面上、或在波束终止阵列(8)和投影透镜系统(10)的有效透镜平面之间的平面上,并且该系统将子束孔径阵列(4D)成像到目标(11)上。
公开/授权文献
- CN102105960A 成像系统 公开/授权日:2011-06-22