发明授权
- 专利标题： 基于FPGA的VIP模块的FT测试方法
- 专利标题（英）： FPGA (Field Programmable Gate Array) based FT (Functional Test) method of VIP (Video Input Processor) module
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申请号： CN201010555392.X申请日： 2010-11-23
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公开(公告)号： CN102096038B公开(公告)日： 2013-01-16
- 发明人: 张英 , 周敏心 , 薛志明
- 申请人： 福州瑞芯微电子有限公司
- 申请人地址： 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼
- 专利权人： 福州瑞芯微电子有限公司
- 当前专利权人： 瑞芯微电子股份有限公司
- 当前专利权人地址： 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼
- 代理机构： 福州市鼓楼区京华专利事务所
- 代理商 翁素华
- 主分类号： G01R31/317
- IPC分类号： G01R31/317
摘要：
基于FPGA的VIP模块的FT测试方法，在FPGA中设计一个发送数据模块；将LCDC的VSYNC取反，作为FPGA送出数据的时序；FPGA送出CCIR656或YUV422格式的数据给VIP采样，VIP采样的时序和发送数据的时序是一致的；将采样到的数据和发送的数据对比，测试VIP是否正常工作。本发明能灵活的实现任何的数字电路，摆脱模拟信号的干扰，减少受制于专用芯片的束缚，来辅助待测芯片的FT测试。
公开/授权文献
- CN102096038A 基于FPGA的VIP模块的FT测试方法 公开/授权日：2011-06-15
