发明公开
- 专利标题: 检具自动装置
- 专利标题(英): Automatic testing device
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申请号: CN201010235404.0申请日: 2010-07-23
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公开(公告)号: CN101917236A公开(公告)日: 2010-12-15
- 发明人: 李文勇 , 段小文
- 申请人: 深圳市众恒世讯科技有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区蛇口赤湾少帝路1号赤湾工业园C栋3楼
- 专利权人: 深圳市众恒世讯科技有限公司
- 当前专利权人: 深圳市众恒世讯科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区蛇口赤湾少帝路1号赤湾工业园C栋3楼
- 代理机构: 深圳市博锐专利事务所
- 代理商 张明
- 主分类号: H04B17/00
- IPC分类号: H04B17/00
摘要:
本发明公开了一种检具自动装置,包括一机座、所述机座的中部位置设置有一固定被测试零件的气爪,所述机座上于气爪的左侧设置有一第一推动机构,机座上于所述气爪的右侧设置有一第二推动机构。第一推动机构与气爪之间设置有一用来与测试仪器连接以测试被测零件的第一连接机构,第二推动机构与气爪之间设置有用来与测试仪器连接以测试被测零件的第二连接机构,第一、第二推动机构运动分别带动第一、第二连接机构向靠近被测试零件运动。本发明检具自动装置自动完成对零件的测试,极大的提高测试效率,并且通过第一、第二推动机构推动第一连接机构和第二连接机构与被测试零件的两端自动插接,对位准确,可以避免对位不准确而出现测试误差的情况。
公开/授权文献
- CN101917236B 检具自动装置 公开/授权日:2013-08-14