发明授权
- 专利标题： 一种传导冷却式超导接头电阻测量装置
- 专利标题（英）： Resistance measurement device of conduction cooling type superconduction adapter
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申请号： CN201010182047.6申请日： 2010-05-19
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公开(公告)号： CN101839943B公开(公告)日： 2012-12-12
- 发明人: 陈顺中 , 王晖 , 崔春燕
- 申请人： 中国科学院电工研究所
- 申请人地址： 北京市海淀区中关村北二条6号
- 专利权人： 中国科学院电工研究所
- 当前专利权人： 中国科学院电工研究所
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区中关村北二条6号
- 代理机构： 北京科迪生专利代理有限责任公司
- 代理商 关玲
- 主分类号： G01R27/02
- IPC分类号： G01R27/02 ; G01R33/07
摘要：
一种传导冷却式超导接头电阻测量装置，包括低温系统和样品室。样品室由背场超导磁体(9)、超导互感器(10)和样品槽(11)组成，它们都放置在40K热辐射屏(4)内部并通过导热结构(8)连接并固定在GM制冷机(1)的二级冷头(7)上。样品单匝闭合环(15)嵌在样品槽(11)内，而超导接头(14)置于背场超导磁体(9)的内孔中心。通过超导互感器(10)给单匝闭合环(15)感应一定大小的电流，然后利用真空容器(2)的下底板中心的室温孔(13)，在外界使用常规霍尔探头来测量单匝闭合环(15)中心磁场的大小，计算出单匝闭合环(15)中电流的大小，测量出两个不同时间点的电流值就可以计算出超导接头实际的电阻值。
公开/授权文献
- CN101839943A 一种传导冷却式超导接头电阻测量装置 公开/授权日：2010-09-22
