Invention Grant
- Patent Title: 用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法和X射线检查设备
- Patent Title (English): Method for improving the ability to detect materials in an x-ray test system, and x-ray test system
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Application No.: CN200880105770.5Application Date: 2008-08-01
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Publication No.: CN101796400BPublication Date: 2012-08-29
- Inventor: U·西登博格
- Applicant: 史密斯海曼有限公司
- Applicant Address: 德国威斯巴登
- Assignee: 史密斯海曼有限公司
- Current Assignee: 史密斯海曼有限公司
- Current Assignee Address: 德国威斯巴登
- Agency: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- Agent 赵科
- Priority: 102007042144.5 2007.09.05 DE
- International Application: PCT/EP2008/006344 2008.08.01
- International Announcement: WO2009/030326 DE 2009.03.12
- Date entered country: 2010-03-05
- Main IPC: G01N23/087
- IPC: G01N23/087

Abstract:
一种用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法,具有以下方法步骤:以不同的能量拍摄待检查对象的至少两幅吸收X射线图像,在假定每一层具有具体物质的情况下通过多个层来对该对象进行数学建模,其中吸收值描述了每一层的吸收能力,层的数量小于或等于X射线图像的数量,而且对于至少一层来说假定一种要在检查时识别的物质,将每层的吸收值分为去路径有关的因子和与能量有关的因子,借助吸收等式根据所述吸收X射线图像来计算所有层的与路径有关的因子,根据所有层的与权重因子相乘的吸收值之和来计算至少一幅合成图像,分析该合成图像。
Public/Granted literature
- CN101796400A 用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法和X射线检查设备 Public/Granted day:2010-08-04
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