发明公开
- 专利标题: 锂二次电池的寿命推测方法和劣化抑制方法、寿命推测器和劣化抑制器、使用它们的电池组、充电器
- 专利标题(英): Lifetime estimating method and deterioration suppressing method for lithium secondary cell, lifetime estimator and deterioration suppressor, battery pack using the same, and charger
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申请号: CN200880101948.9申请日: 2008-12-11
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公开(公告)号: CN101772709A公开(公告)日: 2010-07-07
- 发明人: 宇贺治正弥 , 山本泰右
- 申请人: 松下电器产业株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府
- 专利权人: 松下电器产业株式会社
- 当前专利权人: 松下电器产业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 陈建全
- 优先权: 2007-321840 2007.12.13 JP
- 国际申请: PCT/JP2008/003709 2008.12.11
- 国际公布: WO2009/075109 JA 2009.06.18
- 进入国家日期: 2010-02-04
- 主分类号: G01R31/36
- IPC分类号: G01R31/36
摘要:
本发明涉及锂二次电池的寿命推测方法,其中,在伴随着充放电循环进行的过程中,至少检测2次仅以不同的循环数进行充放电时的锂二次电池的放电后的开路时的电压。接着,将各电压值中的至少2个值相对于各循环数进行作图。然后,描画通过了各作图点的圆弧,基于该圆弧的大小来推测锂二次电池的寿命。基于该寿命推测来控制锂二次电池的充电和放电,从而能控制劣化的进行。
公开/授权文献
- CN101772709B 锂二次电池的寿命推测方法和劣化抑制方法、电池组、充电器 公开/授权日:2012-11-14