• 专利标题: 一种用于陶瓷材料晶粒晶界性能测试电极及其测试方法
  • 专利标题(英): Crystal particle crystal boundary performance test electrode for ceramic material and test method thereof
  • 申请号: CN200910113087.2
    申请日: 2009-12-24
  • 公开(公告)号: CN101769885A
    公开(公告)日: 2010-07-07
  • 发明人: 熊兆贤曹泽亮喻荣薛昊洪礼清
  • 申请人: 厦门大学
  • 申请人地址: 福建省厦门市思明南路422号
  • 专利权人: 厦门大学
  • 当前专利权人: 厦门大学
  • 当前专利权人地址: 福建省厦门市思明南路422号
  • 代理机构: 厦门南强之路专利事务所
  • 代理商 马应森
  • 主分类号: G01N27/00
  • IPC分类号: G01N27/00
一种用于陶瓷材料晶粒晶界性能测试电极及其测试方法
摘要:
一种用于陶瓷材料晶粒晶界性能测试电极及其测试方法,涉及一种测试电极。提供一种用于陶瓷材料的晶粒晶界性能测试电极及其测试方法。测试电极设有校准环、基电极和标向图,基电极设在校准环上,基电极由圆电极在水平、竖直及对角线3个方向引出细线组成,圆电极呈阵列排布;标向图设在基电极四周。制备富CuO的陶瓷材料粉体,干压成陶瓷圆片,保温,表面处理得晶界清晰的陶瓷表面,在表面制备电极;进行I-V特性的测量。无需通过繁琐的工艺制备单晶;便于测量、后期数据的比较分析和后期重复实验;无需使用昂贵的微细探针,且只要借助光学显微镜即可完成测量而无须借助AFM;细线间的距离可根据样品间距的大小来调节,便于各种配方的测量。
0/0