发明公开
CN101769885A 一种用于陶瓷材料晶粒晶界性能测试电极及其测试方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种用于陶瓷材料晶粒晶界性能测试电极及其测试方法
- 专利标题(英): Crystal particle crystal boundary performance test electrode for ceramic material and test method thereof
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申请号: CN200910113087.2申请日: 2009-12-24
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公开(公告)号: CN101769885A公开(公告)日: 2010-07-07
- 发明人: 熊兆贤 , 曹泽亮 , 喻荣 , 薛昊 , 洪礼清
- 申请人: 厦门大学
- 申请人地址: 福建省厦门市思明南路422号
- 专利权人: 厦门大学
- 当前专利权人: 厦门大学
- 当前专利权人地址: 福建省厦门市思明南路422号
- 代理机构: 厦门南强之路专利事务所
- 代理商 马应森
- 主分类号: G01N27/00
- IPC分类号: G01N27/00
摘要:
一种用于陶瓷材料晶粒晶界性能测试电极及其测试方法,涉及一种测试电极。提供一种用于陶瓷材料的晶粒晶界性能测试电极及其测试方法。测试电极设有校准环、基电极和标向图,基电极设在校准环上,基电极由圆电极在水平、竖直及对角线3个方向引出细线组成,圆电极呈阵列排布;标向图设在基电极四周。制备富CuO的陶瓷材料粉体,干压成陶瓷圆片,保温,表面处理得晶界清晰的陶瓷表面,在表面制备电极;进行I-V特性的测量。无需通过繁琐的工艺制备单晶;便于测量、后期数据的比较分析和后期重复实验;无需使用昂贵的微细探针,且只要借助光学显微镜即可完成测量而无须借助AFM;细线间的距离可根据样品间距的大小来调节,便于各种配方的测量。
公开/授权文献
- CN101769885B 一种用于陶瓷材料晶粒晶界性能测试电极及其测试方法 公开/授权日:2012-09-26