发明授权
- 专利标题: 一种杨氏模量的测试方法
- 专利标题(英): Method for testing Young modulus
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申请号: CN200910194227.3申请日: 2009-11-27
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公开(公告)号: CN101718656B公开(公告)日: 2011-07-20
- 发明人: 陈瑞祥
- 申请人: 国光电器股份有限公司 , 广州市国光电子科技有限公司 , 梧州恒声电子科技有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市花都区新华街镜湖大道8号
- 专利权人: 国光电器股份有限公司,广州市国光电子科技有限公司,梧州恒声电子科技有限公司
- 当前专利权人: 国光电器股份有限公司,广州市国光电子科技有限公司,梧州恒声电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市花都区新华街镜湖大道8号
- 代理机构: 广州致信伟盛知识产权代理有限公司
- 代理商 张少君
- 主分类号: G01N3/08
- IPC分类号: G01N3/08
摘要:
一种杨氏模量的测试方法,首先在平整的材料中截取一段长条形的样条,并测量出样条的长度、宽度、厚度、重量、密度;将样条一端固定夹紧在夹具上,另一端呈悬臂梁;将已夹紧的样条放置在卧式光学投影仪工作台上,保证样条水平放置且与投射光线垂直,在样条静止状态下测量出样条的挠度即垂直位移量;再根据材料力学的弯曲变形挠曲线微分方程理论和梁在简单载荷作用下的变形典型结论公式计算出样条的杨氏模量。该测试方法能够简单、准确的测量出杨氏模量数量级较小的材料的杨氏模量。
公开/授权文献
- CN101718656A 一种杨氏模量的测试方法 公开/授权日:2010-06-02