发明公开
CN101632008A 对热绝缘进行测量和控制的装置和方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 对热绝缘进行测量和控制的装置和方法
- 专利标题(英): Apparatuses and methods for measuring and controlling thermal insulation
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申请号: CN200880008279.0申请日: 2008-02-15
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公开(公告)号: CN101632008A公开(公告)日: 2010-01-20
- 发明人: A·V·帕迪
- 申请人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 申请人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 王英; 刘炳胜
- 优先权: 60/894,917 2007.03.15 US
- 国际申请: PCT/IB2008/050564 2008.02.15
- 国际公布: WO2008/110947 EN 2008.09.18
- 进入国家日期: 2009-09-14
- 主分类号: G01K7/34
- IPC分类号: G01K7/34 ; G01K13/00 ; G01N25/18 ; G01N27/22
摘要:
采集由居间电介质材料间隔开的两个导热及导电体的互电容测量结果。至少根据所述互电容测量结果确定两个导热及导电体间的(i)热导和(ii)传热率中的至少一个。例如,将两个导热及导电体间的热导确定为互电容测量结果由居间电介质材料的导热系数与居间电介质材料的介电常数之比进行缩放。