- 专利标题: 被测物相对于传感器的位置和/或位置变化的测定方法及测定用的传感器装置
- 专利标题(英): Method and sensor arrangement for determining the position and/or change of position of a measured object relative to a sensor
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申请号: CN200780047304.1申请日: 2007-12-21
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公开(公告)号: CN101563585A公开(公告)日: 2009-10-21
- 发明人: V·蒙德尼科夫
- 申请人: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
- 申请人地址: 德国奥滕伯格
- 专利权人: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
- 当前专利权人: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
- 当前专利权人地址: 德国奥滕伯格
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 李玲
- 优先权: 102006061845.9 2006.12.21 DE
- 国际申请: PCT/DE2007/002308 2007.12.21
- 国际公布: WO2008/074317 DE 2008.06.26
- 进入国家日期: 2009-06-19
- 主分类号: G01D5/20
- IPC分类号: G01D5/20 ; G01D5/22 ; G01B7/00 ; H01H36/00 ; H03K17/95
摘要:
本发明涉及一种被测物相对于传感器(2)的位置和/或位置变化的测定方法,其中所述传感器(2)优选具有施加以交流电的传感线圈(7),其特征在于:软磁金属薄片(4)中与被测物(1)关联的磁铁(5)使金属薄片(4)的磁导率产生变化,金属薄片(4)的磁导率在磁场的作用下随磁场的场强变化而变化并安排在传感器(2)的作用范围内,而金属薄片(4)的磁导率变化由被测物对传感器(2)的反应来确定并可用于测定被测物(1)相对于传感器(2)的位置和/或位置变化。从而设计出一种传感器装置。
公开/授权文献
- CN101563585B 被测物相对于传感器的位置和/或位置变化的测定方法及测定用的传感器装置 公开/授权日:2013-03-20
IPC分类: