- 专利标题： 用于支持电子装置的测试的系统、温度控制单元及方法
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申请号： CN200910128918.3申请日： 2009-03-13
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公开(公告)号： CN101533279B公开(公告)日： 2011-12-14
- 发明人: 罗闰成 , 具泰兴 , 夫哲圭
- 申请人： 泰克元有限公司
- 申请人地址： 韩国京畿道华城市
- 专利权人： 泰克元有限公司
- 当前专利权人： 泰克元有限公司
- 当前专利权人地址： 韩国京畿道华城市
- 代理机构： 北京铭硕知识产权代理有限公司
- 代理商 韩明星; 刘奕晴
- 优先权： 10-2008-0024106 2008.03.14 KR; 10-2008-0052210 2008.06.03 KR
- 主分类号： G05D23/185
- IPC分类号： G05D23/185 ; G01R1/00
摘要：
公开了一种用于支持电子装置的测试的系统、温度控制单元及方法，所述温度控制单元用于所述用于支持电子装置的测试的系统。还公开了一种用于所述系统的腔的温度控制方法。当在低温或高温对电子装置进行测试时，将低温或高温空气供给到所述腔的内部。当在室温对电子装置进行测试时，外部空气被供给到所述腔的内部。
公开/授权文献
- CN101533279A 用于支持电子装置的测试的系统、温度控制单元及方法 公开/授权日：2009-09-16
