发明授权
- 专利标题: 一种试样多点测量机构
- 专利标题(英): Sample multipoint measurement mechanism
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申请号: CN200810033966.X申请日: 2008-02-28
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公开(公告)号: CN101520308B公开(公告)日: 2011-04-20
- 发明人: 李明义 , 谢恩昕 , 杨毅
- 申请人: 上海华龙测试仪器有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区川宏路389号
- 专利权人: 上海华龙测试仪器有限公司
- 当前专利权人: 上海华龙测试仪器有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区川宏路389号
- 代理机构: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司
- 代理商 吴泽群
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00
摘要:
本发明涉及一种测量机构。一种试样多点测量机构,其特征在于:其包括左右对称设置的一组纵向滑轨、纵向汽缸、纵向滑块,以及上下对称设置的两组横向滑轨、两组横向气缸(52、53)和横向气缸(52′、53′);所述的一组纵向滑轨和纵向汽缸固接于立板上,并在纵向滑轨上下分别设有经纵向汽缸带动的纵向滑块,同时,所述纵向滑块上分别装有上下对称设置的两组横向滑轨;所述两横向滑轨上分设有三块一组的横向滑块;各对应的两组横向滑块上分别对应设有传感器;分设于上下的两组横向气缸分别与其匹配的横向滑块相连接。本发明利用多级汽缸的精确走位,移动固定在多位汽缸上的传感器,达到试样尺寸测量的多点化。
公开/授权文献
- CN101520308A 一种试样多点测量机构 公开/授权日:2009-09-02