发明授权
- 专利标题: 钨钛合金纳米晶浮栅结构及其制备方法
- 专利标题(英): Tungsten titanium alloy nanocrystalline gate-floating structure and preparation method thereof
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申请号: CN200910078478.5申请日: 2009-02-24
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公开(公告)号: CN101494237B公开(公告)日: 2010-07-07
- 发明人: 刘明 , 杨仕谦 , 王琴 , 龙世兵
- 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 申请人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所
- 专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所
- 代理机构: 北京市德权律师事务所
- 代理商 王建国
- 主分类号: H01L29/49
- IPC分类号: H01L29/49 ; H01L21/28
摘要:
本发明公开了一种用于快闪存储器的钨钛合金纳米晶浮栅结构,属于微电子技术领域。该结构包括硅衬底,以及在所述硅衬底上依次覆盖的氧化硅层、高介电常数薄膜、钨钛合金纳米晶电荷存储层、阻挡层以及栅材料层。本发明的结构提高了浮栅结构的非挥发性存储单元的编程/擦除效率、编程/擦除(P/E)速度、有效电荷存储能力、数据保持特性、编程/擦除耐受性等存储性能。本发明同时公开了一种制作钨钛合金纳米晶浮栅结构的方法。本发明的方法简便,并兼容于传统CMOS硅平面工艺。
公开/授权文献
- CN101494237A 钨钛合金纳米晶浮栅结构及其制备方法 公开/授权日:2009-07-29
IPC分类: