发明授权
- 专利标题: 具测试结构的平面显示器
- 专利标题(英): Planar display having test structure
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申请号: CN200910008571.9申请日: 2009-02-03
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公开(公告)号: CN101488313B公开(公告)日: 2010-08-25
- 发明人: 杨宗颖 , 苏高辉
- 申请人: 友达光电股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹
- 专利权人: 友达光电股份有限公司
- 当前专利权人: 友达光电股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹
- 代理机构: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- 代理商 梁挥; 祁建国
- 主分类号: G09G3/20
- IPC分类号: G09G3/20 ; G09F9/30
摘要:
一种具简化测试结构以缩减基板边框区面积的平面显示器,其包含多条数据线、多条栅极线、多条第一导线、多条第一单向开关单元、多条第二单向开关单元、多个控制单元以及第二导线。多条栅极线用以传输测试所需的多个栅极信号。每一个第一单向开关单元仅允许信号从对应第一导线单向传递至对应栅极线。每一个第二单向开关单元仅允许信号从对应第一导线单向传递至第二导线。第二导线用以传输对应第二单向开关所馈入的对应栅极信号。每一个控制单元根据第二导线所传输的栅极信号控制测试数据信号输入至对应数据线。
公开/授权文献
- CN101488313A 具测试结构的平面显示器 公开/授权日:2009-07-22