发明授权
- 专利标题: 抑制非期望离子的用于示踪气体检漏的质谱仪
- 专利标题(英): Mass spectrometer for trace gas leak detection with suppression of undesired ions
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申请号: CN200780010022.4申请日: 2007-02-08
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公开(公告)号: CN101405829B公开(公告)日: 2010-06-02
- 发明人: J·D·杰斯特 , J·迪普 , P·威廉姆斯 , C·W·帕金斯
- 申请人: 凡利安股份有限公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 凡利安股份有限公司
- 当前专利权人: 安捷伦科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 钱慰民
- 优先权: 11/354,410 2006.02.15 US
- 国际申请: PCT/US2007/003379 2007.02.08
- 国际公布: WO2007/097919 EN 2007.08.30
- 进入国家日期: 2008-09-22
- 主分类号: H01J49/14
- IPC分类号: H01J49/14
摘要:
提供了用于示踪气体检漏的质谱仪以及用于操作质谱仪的方法。质谱仪包括使诸如氦之类的示踪气体离子化的离子源、偏转这些离子的磁铁以及检测这些偏转离子的检测器。离子源包括诸如灯丝之类的电子源。该方法包括在相对于电离室的足以使示踪气体离子化但不足以形成诸如三电荷碳之类的非期望离子的电子加速电势下操作电子源。
公开/授权文献
- CN101405829A 抑制非期望离子的用于示踪气体检漏的质谱仪 公开/授权日:2009-04-08