Invention Grant
CN101329527B 总层厚检测装置和检测方法、充电装置及图像形成装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 总层厚检测装置和检测方法、充电装置及图像形成装置
- Patent Title (English): Total layer thickness detection apparatus and detection method, charging apparatus and image forming apparatus
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Application No.: CN200710301828.0Application Date: 2007-12-14
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Publication No.: CN101329527BPublication Date: 2012-04-18
- Inventor: 山口英彦 , 池田周穗 , 守屋秀树 , 大森雅夫
- Applicant: 富士施乐株式会社
- Applicant Address: 日本东京
- Assignee: 富士施乐株式会社
- Current Assignee: 富士施乐株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京
- Agency: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- Agent 顾红霞; 张天舒
- Priority: 2007-165037 2007.06.22 JP
- Main IPC: G03G15/02
- IPC: G03G15/02 ; G03G15/00

Abstract:
本发明公开一种用于被充电体的总层厚检测装置,该总层厚检测装置包括:饱和电荷量检测单元,其检测被充电体的饱和电荷量,所述被充电体具有多个相对介电常数彼此不同的涂层;存储单元,其存储关系信息,所述关系信息表示所述被充电体的饱和电荷量的变化相对于所述被充电体的表面层的层厚变化的关系;以及计算部分,其基于由所述饱和电荷量检测单元检测出的饱和电荷量的变化和存储在所述存储单元中的所述关系信息来计算所述被充电体的所述多个涂层的总层厚。
Public/Granted literature
- CN101329527A 总层厚检测装置和检测方法、充电装置及图像形成装置 Public/Granted day:2008-12-24
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