发明授权
CN101046481B 试样处理装置及设有该装置的测定装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 试样处理装置及设有该装置的测定装置
- 专利标题(英): Sample treating device, and measuring instrument provided therewith
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申请号: CN200610167565.4申请日: 2006-12-19
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公开(公告)号: CN101046481B公开(公告)日: 2010-12-01
- 发明人: 清水直仁 , 远藤正彦 , 井川实 , 陈波梁 , 詹姆斯·E·唐妮
- 申请人: 株式会社堀场制作所 , 堀场仪器株式会社
- 申请人地址: 日本国京都府京都市南区吉祥院宫的东町2番地
- 专利权人: 株式会社堀场制作所,堀场仪器株式会社
- 当前专利权人: 株式会社堀场制作所,堀场仪器株式会社
- 当前专利权人地址: 日本国京都府京都市南区吉祥院宫的东町2番地
- 代理机构: 上海市华诚律师事务所
- 代理商 黄依文
- 优先权: 11/311,066 2005.12.19 US
- 主分类号: G01N35/08
- IPC分类号: G01N35/08 ; G01N21/17
摘要:
本发明提供一种能连续、长期稳定地处理含有容易形成析出物的物质的试样的试样处理装置;以及设有该试样处理装置,能高精度、长期稳定性好、连续地进行测定的测定装置。本发明的试样处理装置的特征在于,通过向至少1个试样流路(A)导入抽吸器用流体,对该试样流路(A)进行清洗,同时从至少1个试样采集部吸取试样,使试样在与该试样采集部连接的该试样流路(A)中冷却并将试样中的特定成分凝结除去,然后将试样导入试样流路(B),并以规定的周期对导入抽吸器用流体的试样流路(A)进行选择切换。
公开/授权文献
- CN101046481A 试样处理装置及设有该装置的测定装置 公开/授权日:2007-10-03