发明授权
CN101038314B 一种MAT辐射杂散的测量方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种MAT辐射杂散的测量方法
- 专利标题(英): Measuring method of MAT radiation emission
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申请号: CN200710100443.8申请日: 2007-04-06
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公开(公告)号: CN101038314B公开(公告)日: 2011-10-26
- 发明人: 禹忠 , 彭宏利 , 王曼
- 申请人: 中兴通讯股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部
- 专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部
- 主分类号: G01R29/08
- IPC分类号: G01R29/08 ; H04B17/00
摘要:
本发明公开了一种MAT辐射杂散的测量方法,该MAT包括RUT和RNUT,其均可工作于第一频段与第二频段,RUT和RNUT的工作频段有多种组合,每一频段对应若干信道,该方法包括如下步骤:步骤1,建立MAT的多个无线链路测试环境;步骤2,在第一频段和第二频段中分别设置多个信道;步骤3,测量RNT和RNUT在每一种工作频段组合下的每一种信道组合的MAT的辐射杂散;步骤4,判断所测每一个辐射杂散是否超出预设值,若均不超出预设值,则测试结束,若有一个超出预设值,则降低MAT发射功率,重复执行步骤3,得到一组新的辐射杂散,若该新的辐射杂散均未超出预设值,则测试结束,若有一个超出预设值,则测试失败。本发明使得测试出的结果更加真实的反应出MAT的抗射频干扰能力。
公开/授权文献
- CN101038314A 一种MAT辐射杂散的测量方法 公开/授权日:2007-09-19