- 专利标题: 确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质
- 专利标题(英): Method of determining defects, recording/reproducing apparatus, and information storage medium
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申请号: CN200580039780.X申请日: 2005-11-17
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公开(公告)号: CN100594544C公开(公告)日: 2010-03-17
- 发明人: 黄盛凞 , 高祯完 , 成孝振
- 申请人: 三星电子株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 北京铭硕知识产权代理有限公司
- 代理商 韩明星; 李云霞
- 优先权: 10-2004-0095909 2004.11.22 KR
- 国际申请: PCT/KR2005/003890 2005.11.17
- 国际公布: WO2006/054866 EN 2006.05.26
- 进入国家日期: 2007-05-21
- 主分类号: G11B7/007
- IPC分类号: G11B7/007
摘要:
提供一种确定在信息存储介质上是否存在缺陷的方法,以及使用该方法的记录/再现设备。该方法包括:从管理信息存储介质并包括缺陷块的状态信息和替换块的状态信息的缺陷列表搜索其状态信息指示缺陷块或替换块已未经检查而被重新初始化的缺陷条目,其中,所述介质包括用于记录替换在介质上的用户数据区中出现的缺陷块的替换块的备用区;和检查在搜索到的缺陷条目中注册的缺陷块或替换块。结果,可有效地重新安排通过执行未经检查盘的快速重新初始化产生的缺陷信息,从而提高驱动器系统的性能。
公开/授权文献
- CN101061537A 确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质 公开/授权日:2007-10-24
IPC分类: