• 专利标题: 用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器
  • 专利标题(英): Method of and drive for recording medium defect management
  • 申请号: CN200480001804.8
    申请日: 2004-04-22
  • 公开(公告)号: CN100562929C
    公开(公告)日: 2009-11-25
  • 发明人: 黄盛凞高祯完
  • 申请人: 三星电子株式会社
  • 申请人地址: 韩国京畿道
  • 专利权人: 三星电子株式会社
  • 当前专利权人: 三星电子株式会社
  • 当前专利权人地址: 韩国京畿道
  • 代理机构: 北京铭硕知识产权代理有限公司
  • 代理商 郭鸿禧; 韩素云
  • 优先权: 10-2003-0026590 2003.04.26 KR; 10-2003-0049130 2003.07.18 KR; 60/472,122 2003.05.21 US
  • 国际申请: PCT/KR2004/000929 2004.04.22
  • 国际公布: WO2004/097813 EN 2004.11.11
  • 进入国家日期: 2005-06-30
  • 主分类号: G11B7/0045
  • IPC分类号: G11B7/0045
用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器
摘要:
一种用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器,以及一种缺陷管理记录介质。该缺陷管理方法包括:当TDMS的更新开始时写入指定临时缺陷管理结构(TDMS)的更新周期被打开的第一状态信息,TDMS包含关于临时缺陷管理的信息;当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质中被读取时更新TDMS;和当TDMS的更新完成时写入指定TDMS的更新周期被关闭的第二状态信息。
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