Invention Grant
- Patent Title: 测量分层流参数的方法和设备
- Patent Title (English): Method and apparatus for measuring parameters of a stratified flow
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Application No.: CN200580014587.0Application Date: 2005-03-10
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Publication No.: CN100478651CPublication Date: 2009-04-15
- Inventor: D·L·格斯林 , M·R·弗纳德 , T·J·贝利 , J·维格
- Applicant: 塞德拉公司
- Applicant Address: 美国康涅狄格州
- Assignee: 塞德拉公司
- Current Assignee: 西德拉企业服务公司,
- Current Assignee Address: 美国康涅狄格州
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 王小衡; 王忠忠
- Priority: 60/552,164 2004.03.10 US
- International Application: PCT/US2005/008192 2005.03.10
- International Announcement: WO2005/088262 EN 2005.09.22
- Date entered country: 2006-11-07
- Main IPC: G01F1/66
- IPC: G01F1/66 ; G01F1/708 ; G01F1/74

Abstract:
本发明涉及利用沿着管道在不同轴向位置配置的至少一个传感器空间阵列测量分层流参数的各种方法。每个传感器提供了一信号,其指示由与流对流的相干结构产生的不稳定压力。在一个方面中,信号处理器从该信号确定具有不同长度规的相干结构的对流速度。该信号处理器接着比较对流速度从而确定流的分层级。分层级可以被用作校准过程的一部分以确定流的体积流速。在另一个方面,该流的分层级通过比较在管道顶部和底部局部测量的速度确定。在管道顶部和底部附近的速度的比率相关于流的分层级。附加的传感器阵列可以提供流的速度分布图。在另一个方面,阵列中的每个传感器包括配置在管道相对侧面的一对传感器半部分,信号处理器利用该信号确定管道内流的标称速度。
Public/Granted literature
- CN1950679A 测量分层流参数的方法和设备 Public/Granted day:2007-04-18
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