发明授权
CN100427906C 采用菲涅尔双面镜的全反射式傅立叶变换成像光谱仪
失效 - 权利终止
- 专利标题: 采用菲涅尔双面镜的全反射式傅立叶变换成像光谱仪
- 专利标题(英): Total reflection type Fourier transform imaging spectrometer employing Fresnel double-mirror
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申请号: CN200510055609.X申请日: 2005-03-21
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公开(公告)号: CN100427906C公开(公告)日: 2008-10-22
- 发明人: 赵达尊 , 廖宁放 , 楚建军 , 李颖 , 黄庆梅 , 蒋月娟 , 胡威捷 , 范秋梅
- 申请人: 北京理工大学
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村南大街5号
- 专利权人: 北京理工大学
- 当前专利权人: 北京理工大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村南大街5号
- 代理机构: 北京理工大学专利中心
- 代理商 付雷杰
- 主分类号: G01J3/45
- IPC分类号: G01J3/45 ; G01J3/26
摘要:
一种采用菲涅尔双面反射镜的全反射式傅立叶变换成像光谱仪。该系统由光学结构、焦平面探测器及信号采集处理系统组成。光学结构包括反射式前置望远镜、狭缝、反射式准直镜、菲涅尔双面反射镜、反射式柱面镜等部分。入射光被菲涅尔双面反射镜分解成两束具有一定交角的相干光束,在焦平面探测器表面产生一维干涉条纹;另一维灰度图由柱面镜聚焦成像。二维焦平面探测器可采用可见光到长波红外(0.4—14μm)中任意波段。信号采集处理系统可得到狭缝上各点的图像及光谱分布。沿与狭缝垂直方向推扫得到目标光谱图像数据立方体。本发明装置光谱响应波段宽、光通量大、信噪比高且结构简单,特别适用于航空航天遥感的高光谱成像领域。
公开/授权文献
- CN1837763A 采用菲涅尔双面镜的全反射式傅立叶变换成像光谱仪 公开/授权日:2006-09-27